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LED 晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發 - 台灣儀器科技研究中心

未來亦將評估採用彩色檢測相. 機，及以分區拼圖後檢測的方式，開發可檢測. 與分辨較多瑕疵種類的LED 晶粒瑕疵檢測系. 統。 誌謝. 感謝科技部及晶元光電公司提供研發計畫 ...

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