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高温/高电场诱发闸极漏电试验(Gate Leakage) - 汽车电子技术论坛

芯片制程演进以及芯片设计公司为了扩大应用领域、降低成本不断进行Die Shrink，使得集成电路闸极漏电现象发生机率增加。闸极漏电现象发生在高压组件上 ...

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