你即將離開本站

並前往https://news.cnyes.com/news/id/1713351

科磊：光學檢測具效率優勢不致被電子束取代 - 鉅亨

半導體量測設備大廠科磊(KLA-Tencor)行銷長Brian Trafas(見附圖)指出，儘管製程不斷微縮，半導體廠為維持量產效益，光學檢測設備仍有其不可替代的高產 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「kla量測」的人也找了：

  1. kla檢測原理
    2.
  2. kla機台介紹
    3.
  3. KLA
    4.
  4. kla產品
    5.
  5. 晶圓缺陷檢測
    6.
  6. 電子束檢測原理
    7.
  7. 漢 測
    8.
  8. KLA SP5
    9.