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KLA推出新型IC量測系統實現高性能邏輯和記憶晶片製造- 財經
半導體設備大廠KLA(科磊)宣布推出採用圖像技術的Archer 750疊對量測系統和針對積體電路製造的SpectraShape 11k光學關鍵尺寸量測系統。
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