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科磊推出最新光學關鍵尺寸量測系統專攻先進製程 - 蘋果日報

隨著新穎的結構和新材料集成到了先進的晶片中，IC製造商將面臨著以原子尺寸級別的製程誤差， 為了確保產品的高質量，美系半導體設備大廠KLA（科磊）在 ...

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