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KLA 發布全新缺陷檢測與檢視產品組合

（IC），該產品組合將在其整個產品週期內縮短其上市的時間。 “為了有利潤地製造下一代記憶體和邏輯晶片，其所需的製程控制是前所未有的，”KLA.

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