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KLA-Tencor推出全新缺陷檢測產品 - DigiTimes

KLA -Tencor全新的Kronos 1080晶圓檢測系統以及ICOS F160晶粒挑撿檢測系統是針對各類型的積體電路封裝製程挑戰所設計的良率提升檢測系統。

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