由IPC塑料芯片载体裂纹任务组(B-10a)和JEDEC. JC-14.1封装器件可靠性测试方法委员会联合开发,. 由IPC TGAsia B-10a CN 技术组翻译。 鼓励本标准的使用者参加未来修订 ...
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