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高真空變溫掃描探針顯微鏡 - 國立陽明交通大學

用途 ：奈米尺度之表面形貌量測解析度：X,Y：0.2 nm、Z： 0.01 nm (scanner：150 ... force microscope (MFM), Scanning tunneling microscope with I-V and CITS (STM)

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