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信賴性評價測試 - 頻光半導體

高溫保存試驗, HTS, 對於保存或是稼動,提升溫度透過短時間評價耐久性。 ・JEITA ED-4701（IEC 60068-2) ・JIS 60068-2 ・MIL-STD-202/750/883 ・其他規格對應。

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