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電晶體控制電阻式記憶體之熱載子劣化與電阻切換機制研究

65nm世代之後，閘極漏電為所有漏電種類中比例最高者，約百分之九十的漏電源 ... 用High-k 材料的好處即為Cox 值更高，元件驅動電流更大。

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