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第一章緒論

目的在於驗證反射率-透射. 率修正法對薄膜光學性質之測求，其準確性高於n＆k分析儀且接近. 橢圓儀之量測結果。 第二部分針對二孔發光(Dipole Illumination)方式，使用美商.

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