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gan晶格常數
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http://journal.dyu.edu.tw/dyujo/document/setjournal/s06-1-9-13.pdf
以超高真空化學束磊晶系統成長氮化銦薄膜對結構特性之研究
晶軸生長且為磊晶結構,其c 軸晶格常數約為0.57 nm;兩者之間並無反應層。綜合以上結果. 得知,使用氮化鎵異質基板可成長出高品質之氮化銦薄膜。
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