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如何区分CP测试和FT测试- 粤芯官网
首先解释一下什么是CP和FT测试。CP是(Chip Probe)的缩写,指的是芯片在wafer的阶段,就通过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行性能及功能测试,有时候 ...
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