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集成電路晶片測試小結_FANSWONG
WAT測試,也叫PCM,對Wafer 劃片槽測試鍵的測試,通過電性參數來監控各步工藝 ... FT的良率一般都不錯,但由於FT測試比CP包含更多的項目,也會遇到Low ...
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