你即將離開本站

並前往https://www.kltech.com.cn/jl/info_189.aspx?itemid=399&lcid=36

Wafer Level CSP - 京隆科技(蘇州)有限公司

未來，WLCSP在後段業務的角色，將隨高階後段封測製程發展趨勢而越趨重要，因為未來的趨勢，將在CP環境就直接測試FT測試規格，發展Handle(小IC)機構模組，減少客戶端之 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「ft測試項目」的人也找了：

  1. ft測試治具
    2.
  2. slt測試
    3.
  3. wat量測原理
    4.
  4. IC測試 工程師 未來
    5.
  5. SLT test
    6.
  6. ate測試
    7.
  7. slt測試是什麼
    8.
  8. HVS 測試
    9.