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晶片測試的幾個術語及解釋（CP、FT、WAT） - 每日頭條

CP對整片Wafer的每個Die來測試而FT則對封裝好的Chip來測試。 ... 一般來說，CP測試的項目比較多，比較全；FT測的項目比較少，但都是關鍵項目，條件 ...

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