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芯片测试相关术语解释（CP、FT、WAT）-基础小知识（七）

FT测试 ，英文全称Final Test，是芯片出厂前的最后一道拦截。测试对象是针对封装好的chip，CP测试之后会进行封装，封装之后进行FT测试。

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