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芯片测试的CP\FT\WAT 是怎么回事? - 技术支持
FT :Final test,封装完成后的测试,也是最接近实际使用情况的测试,会测到比CP更多的项目,处理器的不同频率也是在这里分出来的。这里的失效反应封装 ...
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