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FIB-SEM技术在维纳米级单颗粒三维重构中的应用-分析测试中心

FIB -SEM是聚焦离子束（Focused Ion beam，FIB）与扫描电子束（Scanning Electron Microscope, SEM）双束系统，聚焦离子束可用于对样品进行微加工，扫描电子束可用于 ...

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