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如何使用掃描式電子顯微鏡(SEM)進行EDX元素分析
掃描式電子顯微鏡(英語:Scanning Electron Microscope,縮寫為SEM)使用電子束從納米尺度的樣品中獲取資訊。檢測到的主要信號類型是背散射 ...
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