你即將離開本站

並前往https://www.chinaisti.com/index/Page/index/catid/77.html

双束聚焦离子束(Dual Beam FIB) - 苏试宜特

Dual Beam FIB(双束聚焦离子束)机台能在使用离子束切割样品的同时，以电子束对样品断面进行观察，亦可进行EDX成份分析。

確定！ 回上一頁

查詢 「fib分析」的人也找了：

  1. fib是什麼
    2.
  2. fib sem差異
    3.
  3. fib技術分析
    4.
  4. fib切割
    5.
  5. fib切片
    6.
  6. fib原理
    7.
  7. FIB
    8.
  8. fib介紹
    9.