二、掃描式電子顯微鏡:用於材料表面顯微組織觀察,搭配EDS可從事微區成分分析. 儀器名稱 ... FIB. 聚焦離子束與電子束顯微系統 (FEI Helios600i FIB) 2013. 工綜館130.
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