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聚焦离子束显微镜(FIB)机台和测试方法简介

工作原理聚焦离子束显微镜(FIB)的利用镓(Ga)金属作为离子源，再加上负电场 ... 要分析图中的导电粒子在压合前的情况，利用常用的手工裂片方法无法进行样品制备。

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