本研究主要在探討溫度效應對覆晶球柵陣列構裝(Flip Chip Ball Grid Array, FCBGA)元件可靠度之影響進行研究。研究方式係以四點彎曲測試,分別對FCBGA元件在25℃、75℃ ...
確定! 回上一頁