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IC在測試生產過程的靜電放電(ESD)擊傷及電性過壓(EOS)現象

在待測物、設備或是人員之間，不可避免都會有移動及接觸與再分離的行為出現，因此在待測物上必然會發生靜電放電(Electrostatics Discharge， ESD)的 ...

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