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eos原因
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IC在測試生產過程的靜電放電(ESD)擊傷及電性過壓(EOS)現象
ESD:electronstatic discharge 静电放电现象:有限的大量的电荷在不同电位体之间快速转移的一种放电现象。 产生原因:摩擦,接触,耦合感应等。 特点: ...
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