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JASCO FP-8650 長波長螢光光譜儀 - 尚偉股份有限公司

緊湊的儀器設計結合了高速掃描和自動高階繞射濾光片，可消除高階繞射訊號，從而快速、準確地測量單光譜和EEM （Excitation-Emission-Matrices）。

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