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掃描電子顯微X 射線能譜分析法在微量證物鑑識的應用

此外SEM/EDS 尚有下述優點：樣品前處理簡便迅. 速，可利用背向散射電子影像模式快速搜尋高原子. 序分析標的，X 射線成像技術(X-ray mapping) 可. 分析微量證物之元素分布， ...

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