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行政院國家科學委員會專題研究計畫成果報告- 奈米CMOS 元件 ...

本文. 係世界上首次於頂尖國際會議(2011 VLSI)以實驗的量測法來偵測雜質分佈. (random dopant distribution) ，該研究過去都以模擬的方法將雜質放置於元. 件的通道，來解釋 ...

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