你即將離開本站

並前往https://www.kromax.com/zh-TW/ProductDetails.aspx?id=131

奇裕集團- AWI-series 全自動晶圓針孔(pinhole) 及表面缺陷檢查機

AOI, pinhole, surface, defect, 重掺杂, 半导体, 硅片, 12英寸, 光学自动检测. 電子郵件︰[email protected]. ©2014-2022 奇裕企業股份有限公司.

確定！ 回上一頁

查詢 「defect半導體」的人也找了：

  1. 有哪幾種典型的晶體缺陷
    2.
  2. 點缺陷種類
    3.
  3. 面缺陷種類
    4.
  4. 材料缺陷
    5.
  5. schottky defect中文
    6.
  6. substitutional site中文
    7.
  7. 晶體缺陷影響
    8.
  8. 材料缺陷例子
    9.