你即將離開本站

並前往https://community.jmp.com/t5/JMP-Blog/%E5%A6%82%E4%BD%95%E5%BF%AB%E9%80%9F%E8%AD%98%E5%88%A5%E6%99%B6%E5%9C%93%E7%BC%BA%E9%99%B7-%E9%AB%98%E7%A7%91%E6%8A%80%E5%8D%8A%E5%B0%8E%E9%AB%94%E4%B8%8B%E7%9A%84%E8%B3%87%E6%96%99%E5%88%86%E6%9E%90/ba-p/468758

如何快速識別晶圓缺陷？高科技半導體下的資料分析

晶圓製造是指半導體集成電路製作所用的矽晶片，由于其形狀爲圓形，故稱爲 ... 值最低的Defect D，經過Graph Builder畫出wafer map後圖形確實不明顯。

確定！ 回上一頁

查詢 「defect半導體」的人也找了：

  1. 有哪幾種典型的晶體缺陷
    2.
  2. 點缺陷種類
    3.
  3. 面缺陷種類
    4.
  4. 材料缺陷
    5.
  5. schottky defect中文
    6.
  6. substitutional site中文
    7.
  7. 晶體缺陷影響
    8.
  8. 材料缺陷例子
    9.