你即將離開本站

並前往http://nhuir.nhu.edu.tw/retrieve/7518/3012000304.pdf

積體電路良率管理之良率模式構建-類神經網路之應用 - nhuir

良率(yield)是半導體積體電路業者進行獲利評估的一個重要指標，為了能快速、有效地且 ... 陷來源(defect source)、缺陷數目以及缺陷群聚(defect cluster)等一併納入 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「defect半導體」的人也找了：

  1. 有哪幾種典型的晶體缺陷
    2.
  2. 點缺陷種類
    3.
  3. 面缺陷種類
    4.
  4. 材料缺陷
    5.
  5. schottky defect中文
    6.
  6. substitutional site中文
    7.
  7. 晶體缺陷影響
    8.
  8. 材料缺陷例子
    9.