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該解決方案使用電子束感應電阻變化（EBIRCh）技術進行 ...

... 和Point Electronic一起，展示了其納米探測解決方案的新用例，該解決方案使用電子束感應電阻變化（EBIRCh）技術進行半導體缺陷定位。

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