你即將離開本站

並前往https://patents.google.com/patent/TWI433160B/zh

TWI433160B - 積體電路製程中判定缺陷的結構與方法

本發明之另一特徵係提供一種判定半導體裝置樣本上的缺陷的測試結構，從而亦有助於驗證 ... System and method for defect localization on electrical test structures.

確定！ 回上一頁

查詢 「defect半導體」的人也找了：

  1. 有哪幾種典型的晶體缺陷
    2.
  2. 點缺陷種類
    3.
  3. 面缺陷種類
    4.
  4. 材料缺陷
    5.
  5. schottky defect中文
    6.
  6. substitutional site中文
    7.
  7. 晶體缺陷影響
    8.
  8. 材料缺陷例子
    9.