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改善測試面積及功率消耗之周邊電路設計__長庚大學機構典藏系統

詳目顯示 ; 長庚大學 · 電子工程學系 · 英文 · 單晶片；半導體；電路板；短時間；次微米；系統單晶片；可測性設計 · IEEE P1500；SoC Testing；Embedded cores；Wrapper.

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