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无损分析|超声波扫描C-SAM-超声波扫描显微镜分析应用- 知乎

C-SAM 是利用频率高于20KHz的超声波脉冲探测样品内部空隙等缺陷的仪器，主要用于观察组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。是一项非破坏性 ...

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