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csam分析
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什么是超声扫描(C-SAM)分析?参考标准有哪些? - 百度知道
C-SAM 是利用超声波脉冲探测样品内部空隙等缺陷的仪器,主要用于观察组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。是一项非破坏性的检测组件的完整性,内部 ...
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「csam分析」
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csam半導體
c-scan原理
csam全名
c-sam inspection
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