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C-SAM- 材料和性能检测 - 金鉴实验室

2021年4月26日 — 简介：C-SAM，中文名称为超声波扫描显微镜，是利用超声波脉冲探测样品内部空隙等缺陷的仪器，主要用于观察组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂 ...

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