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非破壞性檢測新助手－掃瞄式聲波顯微鏡

在早期非破壞性檢測技術上，以X 光透視和. 低頻超音波影像最為普遍，可以得到低解析度的影. 像；然隨著科技的進步，元件製程的微小化已是目.

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