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奈米級IC測試挑戰 - CTIMES

其中，首次的最大改變是從晶片I/O的功能性測試（以邏輯模擬測試向量為基礎）轉變成以掃描（scan）為基礎的 ... 在選擇壓縮的解決方案時，下列的要求項目是很重要的：.

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