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集成電路晶片測試小結 - FANSWONG

WAT測試，也叫PCM，對Wafer 劃片槽測試鍵的測試，通過電性參數來監控各步工藝 ... FT的良率一般都不錯，但由於FT測試比CP包含更多的項目，也會遇到Low ...

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