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應用TRIZ 理論於探針卡測試設備研發

對於晶圓（wafer）製造及封裝測試等半導體產業 ... 電流及阻值之差異，以利後續該探針卡用於晶圓測試 ... 項目，愈高分代表愈佳；「各項成本」與「負面效應」.

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