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cp測試流程– 半導體測試流程 - Masteypc

CP 對整片Wafer的每個Die來測試而FT則對封裝好的Chip來測試。 ... 規格，並對已測試的產品依其電性功能作分類（即分Bin）， 台中，將根據產品不同之測試項目而載入不同 ...

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