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ft測試流程 - Appolice

外觀檢驗之項目繁多，且視不同之封裝型態而有所不同，包含了引腳之各項性質、 ... 如何區分CP測試和FT測試-CP最大的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選 ...

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