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芯片測試術語，片內測試(BIST)，ATE測試- 台部落

CP ：chip probing，wafer level 的電路測試含功能； 3. ... 一般來說，CP測試的項目比較多，比較全；FT測的項目比較少，但都是關鍵項目，條件嚴格。

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