你即將離開本站

並前往https://www.sandin.com.tw/uploadfiles/600/%E8%AB%96%E8%BF%B0%E8%88%87%E8%B3%87%E8%A8%8A/%E7%A9%8D%E9%AB%94%E9%9B%BB%E8%B7%AF%E6%B8%AC%E8%A9%A6%E7%9A%84%E5%A4%A7%E6%95%B8%E6%93%9A/%E7%A9%8D%E9%AB%94%E9%9B%BB%E8%B7%AF%E6%B8%AC%E8%A9%A6%E7%9A%84%E5%A4%A7%E6%95%B8%E6%93%9A.pdf

積體電路測試的大數據Big Data Interpretation in the IC Testing ...

圖5.27 所示Ca 值與Cp 值表示晶片測得參數，可能的五種變化，首推(一)測試 ... 發現，測試機所測的IC 複雜度很高，每一顆IC 所測的項目均有不同，所要的參.

確定！ 回上一頁

查詢 「cp測試項目」的人也找了：

  1. cp測試流程
    2.
  2. cp測試機台
    3.
  3. CP Test Flow
    4.
  4. ic測試項目
    5.
  5. cp測試廠
    6.
  6. wat量測原理
    7.
  7. cp ft測試
    8.
  8. slt測試是什麼
    9.