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芯片测试术语介绍CP、FT、WAT - 知乎专栏
CP 、FT、WAT CP是把坏的Die挑出来,可以减少封装和测试的成本。 ... 的设计公司会有不同的要求) 一般来说,CP测试的项目比较多,比较全;FT测的项目 ...
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