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(六)淺談晶片實體設計-回歸(Regression) - funBroad

基於DTD(die-to-die)特徵點的差異, 只需做一些資料統計/分析我們很容易就能擴張框架(scope)至WIW(within-wafer)或是WTW(wafer-to-wafer)製程差異等 ...

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