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高精度超音波顕微鏡 C-SAM | 日本バーンズ株式会社

超音波顕微鏡C-SAMは、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 サンプルに対して発信された超音波の反射を ...

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